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| 貼圖者：王昱程 地區：台北市 點閱數：79 貼圖日期：2020/2/13 15:45 | |||||||||||||||
| 圖說： | 圖一_蔡司Crossbeam Laser FIB-SEM為先進半導體封裝加速封裝失效分析及製程優化。透過將飛秒雷射、鎵離子FIB與場發射電子顯微鏡整合成單一工具，以提供最快速的指定區域橫切面工作流程。 | ||||||||||||||
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