生成式AI為半導體開啟新賽道,高頻高速 , 大封裝高腳數 , 大功率的時代來臨!半導體測試介面領導廠商穎崴科技(WinWay Technology)握有全球領先高頻、高速測試介面技術,全產品線於SEMICON TAIWAN展出,展會期間在今天9月7日受SEMI官方的邀請舉辦半導體測試介面趨勢論壇 (Advancement in Semiconductor Test Interface Symposium) 論壇中穎崴科技研發主管孫家彬博士及陳南誠博士針對AI, HPC與Automotive半導體測試介面發展趨勢及CoWoS, Chiplet 高階封裝帶來測試介面的機會與挑戰發表演說。
隨著先進製程微縮技術的不斷發展如AI晶片製程先進電路複雜使晶片測試難度大增,半導體測試介面技術亦是至關重要的環節。以下為半導體測試的趨勢概況: 大型封裝 (>100X100mm2) 的需求正在快速增加,特別是在高性能計算 HPC和資料中心 Data Center領域。這些封裝通常包含多個晶片、高密度 Fine Pitch高引腳數 High Pin Count和大功率 High Power。測試這些大型封裝晶片需要更高階的測試設備和更高的測試速度,以確保產品品質。